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芯片推拉力测试机测试参数全面解析,不容错过!

发布时间:2023-06-08         文章来源:
芯片推拉力测试机常用参数有剪切高度、回升距离、测试行程、测试速度、合格力值、回原位补偿等,对于刚接触这一款多功能型的测力设备的新手,还是有点不太明白测试机测试参数概念及如何设置,今天,博森源电子工程师为大家解析一二。
推拉力测试机测试参数.JPG
1.剪切高度

一般设置为20um,是指在进行剪切测试时,样品与刀口(推刀、拉针)之间的距离。这个高度通常是根据样品的厚度和测试要求来确定的。在进行剪切测试时,样品被放置在测试机的夹持装置中,然后刀口被移动以剪切样品。剪切高度的选择对测试结果有很大的影响,因为它会影响到样品的应变率和剪切力的大小。因此,在进行剪切测试时,需要根据具体的测试要求和样品特性来选择合适的剪切高度。


2.回升距离

是指在进行拉伸或压缩测试时,测试机在达到最大载荷后,释放载荷并回到初始状态的距离。这个距离通常是测试机的一个重要参数,因为它可以反映测试机的精度和稳定性。在进行拉伸或压缩测试时,测试机会施加一个载荷,直到样品断裂或达到预设的最大载荷。然后,测试机会释放载荷并回到初始状态,这个过程中的回升距离就是测试机的回升距离。

3.测试行程

是指测试机在进行拉伸或压缩测试时,夹持装置和传感器所能移动的最大距离。测试行程通常是测试机的一个重要参数,因为它可以影响到测试的精度和可靠性。

在进行拉伸或压缩测试时,测试机会施加一个逐渐增加的载荷,直到样品断裂或达到预设的最大载荷。在测试过程中,夹持装置和传感器会随着载荷的增加而移动,直到达到测试行程的限制。如果测试行程不足,则可能无法完成测试,或者测试结果可能不准确。

测试行程的大小取决于测试要求和样品特性。在选择测试机时,需要考虑测试行程这个参数,以确保测试机的测试行程能够满足测试要求。如果测试行程不足,可以选择更大的测试行程的测试机,或者通过改变夹持装置和传感器的位置来扩大测试行程。

4.测试速度
限定为0.3mm/s。是指在进行拉伸或压缩测试时,测试机施加载荷的速度。测试速度通常是测试机的一个重要参数,因为它可以影响到测试结果的准确性和可靠性。

在进行拉伸或压缩测试时,测试机会施加一个逐渐增加的载荷,直到样品断裂或达到预设的最大载荷。测试速度决定了载荷增加的速度,如果测试速度过快,则可能无法准确记录样品的应力-应变曲线,从而影响测试结果的准确性。如果测试速度过慢,则测试时间会变长,从而影响测试效率。

测试速度的大小取决于测试要求和样品特性。在选择测试机时,需要考虑测试速度这个参数,以确保测试机的测试速度能够满足测试要求。通常,测试速度应该根据测试标准或产品规格来确定,并在测试过程中保持恒定。如果需要进行不同速度的测试,可以选择具有可调速度的测试机。


5.合格力值

下限值为10gf;上限值为5000gf。是指在进行拉伸或压缩测试时,样品所承受的最大载荷,该载荷被认为是样品合格的最小值。合格力值通常是根据测试标准或产品规格来确定的,以确保样品的质量和性能符合要求。

在进行拉伸或压缩测试时,测试机会施加一个逐渐增加的载荷,直到样品断裂或达到预设的最大载荷。在测试过程中,测试机会记录样品所承受的最大载荷,这个载荷就是合格力值。如果样品的合格力值高于或等于规定的最小值,则样品被认为是合格的。

合格力值的大小取决于测试标准或产品规格的要求。在进行测试前,需要确定合格力值的大小,并根据这个值来设置测试机的测试参数。


6.回原位补偿

是指在进行拉伸或压缩测试时,测试机在达到最大载荷后,释放载荷并回到初始状态时,测试机自动进行的微小位移调整,以确保测试机回到准确的初始位置。这个过程中的微小位移调整就是回原位补偿。

回原位补偿是测试机的一个重要功能,因为它可以确保测试结果的准确性和可靠性。在进行拉伸或压缩测试时,测试机的夹持装置和传感器可能会发生微小的位移或变形,这些变化可能会影响测试结果的准确性。通过回原位补偿,测试机可以自动进行微小的位移调整,以确保测试机回到准确的初始位置,从而消除这些影响。

回原位补偿的大小通常是测试机的一个可调参数,可以根据测试要求和样品特性进行调整。在选择测试机时,需要考虑回原位补偿这个功能。

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